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一种面向可见-近红外的超薄单晶硅成像芯片的设计方法 

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申请/专利权人:苏州大学

摘要:本发明提供一种面向可见‑近红外的超薄单晶硅成像芯片的设计方法,涉及光电探测技术领域,该方法包括选用P型硅晶圆作为成像芯片的基材,并设计超薄硅条带作为成像芯片的单元器件;基于超薄硅条带,设计成像芯片的读出电路;基于成像芯片的读出电路,为了产生温差,通过改变超薄硅条带阵列的局部电学和光学性质,减小超薄硅条带对称性的影响,得到最终的成像芯片。本发明实现了快速、高效的硅基红外探测,具有缺陷少、噪声小、成本低、兼容性强和易于大面积制备的优点。

主权项:1.一种面向可见-近红外的超薄单晶硅成像芯片的设计方法,其特征在于,包括:选用P型硅晶圆作为成像芯片的基材,并设计超薄硅条带作为成像芯片的单元器件;基于超薄硅条带阵列,设计成像芯片的读出电路;基于成像芯片的读出电路,为了产生温差,通过改变超薄硅条带阵列的局部电学和光学性质,减小超薄硅条带对称性的影响,得到最终的成像芯片。

全文数据:

权利要求:

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