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申请/专利权人：成都电科星拓科技有限公司
摘要：本发明公开了一种光模块上裸芯片的HTOL测试方法，属于芯片测试领域。为解决光模块上未经封装的裸芯片难以执行HTOL批量测试难题，本发明通过计算机和MCU模块建立连接；通过HTOL测试机和时钟模块建立连接，时钟模块包括时钟发生器和多路时钟缓冲器；多路时钟缓冲器输出时钟信号至每一个插槽工位的信号输入接口；MCU模块与每一个插槽工位的信号输入接口以及每一个插槽工位的信号输出接口建立连接；每一个插槽工位均设置在HTOL测试板上，每一个插槽工位中均插入一个光模块PCBA，且每个光模块PCBA的发射端和接收端之间均通过自环光纤建立环回路径，将光信号环回到接收端。本发明用于光模块上裸芯片测试，不仅兼容光模块制造工艺，且成本低，支持HTOL批量测试。
主权项：1.一种光模块上裸芯片的HTOL测试方法，其特征在于：通过计算机和MCU模块建立连接；通过HTOL测试机和时钟模块建立连接，其中时钟模块包括时钟发生器和多路时钟缓冲器；所述多路时钟缓冲器输出时钟信号至每一个插槽工位的信号输入接口，所述时钟信号为电信号；所述MCU模块与每一个插槽工位的信号输入接口以及每一个插槽工位的信号输出接口建立连接；此外，每一个插槽工位均设置在HTOL测试板上，每一个插槽工位中均插入一个光模块PCBA，且每个光模块PCBA的发射端和接收端之间均通过自环光纤建立环回路径，将光信号环回到接收端；所述MCU模块对每一个插槽工位中的光模块PCBA中的集成在光模块上的待测裸芯片的寄存器进行读取，以监测待测裸芯片的实时状态，从而判断待测裸芯片是否存在退化情况。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 成都电科星拓科技有限公司 光模块上裸芯片的HTOL测试方法
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