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申请/专利权人:甘肃省科学院传感技术研究所
摘要:本发明公开了一种提高模拟开关耐ESD能力的电路版图,在不增加工艺层次改变工艺流程的前提下,将主体开关中的NMOS串联个数增加为2以上,搭配传统的栅极信号控制电路和Body电压控制电路,提高了内部电路的击穿电压,保证ESD发生时候能够安全的保障外部ESD的NMOS先于内部主体NMOS击穿,使ESD能够得到有效的泄放。
主权项:1.一种提高模拟开关耐ESD能力的电路版图,其特征在于,包括:场效应管N1、场效应管N2和场效应管P1;所述场效应管N1的第一引脚作为所述提高模拟开关耐ESD能力的电路版图的输入端,所述场效应管N1的第一引脚还与所述场效应管P1的第一引脚连接,所述,所述场效应管N1的第二引脚与所述场效应管N2的第一引脚连接,所述场效应管N2的第二引脚作为所述提高模拟开关耐ESD能力的电路的输出端,所述场效应管N2的第二引脚还与所述场效应管P1的第二引脚连接;所述场效应管N1的栅极、所述场效应管N2的栅极和所述场效应管P1的栅极均与栅极电压控制电路连接;所述场效应管N1的体极、所述场效应管N2的体极和所述场效应管P1的体极均与Body电压跟随电路连接。
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