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申请/专利权人：常州韦林斯旺新材料有限公司
摘要：本发明涉及检测装置技术领域，具体为一种半导体材料弯曲测试设备，包括操作箱，所述操作箱的前端转动连接有观察窗，所述操作箱的上端安装有校准机构，所述操作箱的上端校准机构的一侧安装有加湿机构，所述操作箱的内侧校准机构的下方安装有放置机构，所述操作箱的内侧放置机构的下方固定连接有挡板，所述挡板的内侧开设有两组相对称的收集槽，所述操作箱的内侧挡板的下方滑动连接有收集箱，所述操作箱的一侧安装有加热机构，通过第一电机驱动压板可以使压板进行四点弯曲检测和三点弯曲检测，使装置的实用性大大提高，并且减少了操作步骤，提高了工作效率，通过压板均为四边相同的矩形可以使下压的力更加均衡，避免了受力不均导致的操作不当。
主权项：1.一种半导体材料弯曲测试设备，包括操作箱（1），其特征在于：所述操作箱（1）的前端转动连接有观察窗（2），所述操作箱（1）的上端安装有校准机构（4），所述操作箱（1）的上端校准机构（4）的一侧安装有加湿机构（7），所述操作箱（1）的内侧校准机构（4）的下方安装有放置机构（5），所述操作箱（1）的内侧放置机构（5）的下方固定连接有挡板（8），所述挡板（8）的内侧开设有两组相对称的收集槽（9），所述操作箱（1）的内侧挡板（8）的下方滑动连接有收集箱（3），所述操作箱（1）的一侧安装有加热机构（6）。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 常州韦林斯旺新材料有限公司 一种半导体材料弯曲测试设备
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