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申请/专利权人：上海天数智芯半导体有限公司

摘要：本发明提供一种GPGPU芯片无损ExtestMode测试方法，基于GPGPU芯片的设计特点，根据顶层芯片的逻辑连接关系，把GPGPU芯片的设计分为计算逻辑模块和余下的SOC模块，从而分成两个ExtestMode分组：一组包含计算逻辑模块以及与之相连的SOC模块，另外一组包含所有的SOC模块。在此基础上，每组均控制所有的扫描链输入信号，根据GPGPU芯片提供的所有输入输出管脚数量，再次分组直到观测完所有的扫描链输出信号，对运算内存的需求大大降低，同时没有损失任何测试覆盖率。

主权项：1.一种GPGPU芯片无损ExtestMode测试方法，其特征在于，包括：根据GPGPU芯片中与计算逻辑模块连接的关系，确定所有与计算逻辑模块相连接的SOC模块；确定除与计算逻辑模块相连接的SOC模块之外的SOC模块；获取整个GPGPU芯片输入管脚和输出管脚的数量；获取所有计算逻辑模块以及与计算逻辑模块相连接的SOC模块的扫描链输入信号和输出信号的数量；根据扫描链输入信号数量、输出信号数量和GPGPU芯片输入输出管脚数量，将测试分为N个分组；在ATPG工具中读入数字芯片全芯片的网表，其中GPGPU芯片的PLL逻辑模块和DFT逻辑控制模块读入全逻辑网表；计算逻辑模块和所有与计算逻辑模块相连接的SOC模块均读入灰盒网表；除与计算逻辑模块相连接的SOC模块之外的SOC模块均读入空网表；使整个GPGPU芯片处于Extest测试模式，再将N个分组中第一个分组的模块的扫描链输入输出信号配置到输入输出管脚并进行ATPG测试；测试完第一个分组之后，再进行第二个分组的ATPG测试，直到第N个分组全部测试完；获取所有与计算逻辑模块相连接的SOC模块以及除与计算逻辑模块相连接的SOC模块之外的SOC模块的扫描链入信号数量和输出信号的数量；根据扫描链输入信号数量、输出信号数量和GPGPU芯片输入输出管脚数量，将测试分为M个分组；在ATPG工具中读入数字芯片全芯片的网表，其中GPGPU芯片的PLL逻辑模块和DFT逻辑控制模块读入全逻辑网表；所有与计算逻辑模块相连接的SOC模块以及除与计算逻辑模块相连接的SOC模块之外的SOC模块均读入灰盒网表；所有计算逻辑模块读入空网表；使整个GPGPU芯片处于Extest测试模式，再将M个分组中第一个分组的模块的扫描链输入输出信号配置到输入输出管脚并进行ATPG测试；测试完第一个分组之后，再进行第二个分组的ATPG测试，直到第M个分组全部测试完，结束测试。

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