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申请/专利权人：杭州世德云测科技有限公司
摘要：本发明提出了一种存储阵列测试方法、系统、电子设备、存储介质，方法应用于存储阵列测试系统，方法包括：目标信号发生器产生测试信号，并将测试信号发送到针卡，测试信号为高频信号；针卡将测试信号传输到待测晶体管器件，通过测试信号对待测晶体管器件进行测试，得到多个输出数据；测试通道中的同步模块对各个输出数据进行信号同步处理，并输出到针卡；针卡将输出数据传输到中间信号处理模块；中间信号处理模块对输出数据进行预处理；信号测量和采集模块对预处理后的输出数据进行信号测量和转换，得到分析数据；上位机通过预设的分析算法对分析数据进行测试分析，得到目标测试结果。从而提高并行测试存储阵列的可靠性。
主权项：1.一种存储阵列测试方法，其特征在于，应用于存储阵列测试系统，所述存储阵列测试系统与待测晶体管器件相连接，所述待测晶体管器件为待测存储阵列，所述存储阵列测试系统包括同步模块、目标信号发生器、针卡、中间信号处理模块、信号测量和采集模块和上位机，所述针卡分别与所述目标信号发生器和待测晶体管器件通信连接，所述中间信号处理模块分别与所述针卡和所述信号测量和采集模块通信连接，所述上位机与所述信号测量和采集模块通信连接，所述待测晶体管器件对应的各个测试通道连接于同一个接地点和同一个参考回路，所述同步模块设置于所述测试通道，所述测试通道用于指示测试信号输送的路径，所述存储阵列测试方法包括：所述目标信号发生器产生所述测试信号，并将所述测试信号发送到所述针卡，所述测试信号为高频信号；所述针卡将所述测试信号传输到待测晶体管器件，通过所述测试信号对所述待测晶体管器件进行测试，得到多个输出数据；所述测试通道中的所述同步模块对各个所述输出数据进行信号同步处理，并输出到所述针卡；所述针卡将所述输出数据传输到中间信号处理模块；所述中间信号处理模块对所述输出数据进行预处理；所述信号测量和采集模块对预处理后的所述输出数据进行信号测量和转换，得到分析数据；所述上位机通过预设的分析算法对所述分析数据进行测试分析，得到目标测试结果。
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百度查询： 杭州世德云测科技有限公司 存储阵列测试方法、系统、电子设备、存储介质
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