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申请/专利权人：西安宇视信息科技有限公司
摘要：本发明提供一种平整度检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待检测平面的检测图像，待检测平面包括多个检测点和参考点；确定检测图像中各个检测点的亮度值；在待检测平面上各检测点的亮度值未随坐标呈线性变化的情况下，针对待检测平面的任一检测点，确定检测点的亮度值和与检测点相邻的参考点的亮度值之间的亮度差值；根据各检测点的亮度差值确定待检测平面的平整度检测结果。由此，能够实现对平面平整度的实时监测。
主权项：1.一种平整度检测方法，其特征在于，包括：获取待检测平面的检测图像，所述待检测平面包括多个检测点和参考点；确定所述检测图像中各个所述检测点的亮度值；在所述待检测平面上各所述检测点的亮度值未随坐标呈线性变化的情况下，针对所述待检测平面的任一检测点，确定所述检测点的亮度值和与所述检测点相邻的参考点的亮度值之间的亮度差值；根据各所述检测点的亮度差值确定所述待检测平面的平整度检测结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安宇视信息科技有限公司 平整度检测方法、装置、电子设备及存储介质
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