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申请/专利权人:联发科技(新加坡)私人有限公司
摘要:一种内核测试方法,用于测试具有多内核的处理电路,包括:a测试内核的缺陷以确定至少一个故障内核;b记录故障内核;c对所有内核进行性能测试以生成性能数据;以及d根据步骤b中记录的故障内核过滤性能数据。
主权项:1.一种内核测试方法,用于测试处理电路,所述处理电路包括多个内核,包括:a测试所述多个内核的缺陷以确定至少一个故障内核;b记录所述故障内核;c对所有内核执行性能测试以生成性能数据;以及d根据所述步骤b中记录的所述故障内核过滤所述性能数据。
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百度查询: 联发科技(新加坡)私人有限公司 内核测试方法和内核测试电路
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