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申请/专利权人：郑州大学
摘要：本发明提出了一种金拉伸过程中原子插入层的杨氏模量的测量方法，所述方法通过给纳米材料施加偏置电压来振荡长度扩展谐振腔，反馈回路通过锁相环调节激励频率，以确保LER在其谐振频率上以恒定的幅度振荡，可得到金纳米触点的刚度值，由引入原子插入层前后的金纳米触点刚度值，获得原子插入层的纳米刚度值，进而获得原子插入层的杨氏模量。
主权项：1.一种金拉伸过程中原子插入层的杨氏模量的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：1将LER探针与Au纳米触点相连；2在室温条件下，对Au纳米触点进行拉伸，在拉伸过程中施加偏置电压，测得Au纳米触点的电导值G；同时，使用带振荡控制器的锁相环，施加交流激励电压，使LER探针在其谐振频率上振荡，振幅恒定，谐振频率为f；3通过公式1获得纳米触点的最小截面面积A： 其中，G为Au纳米触点的电导值，λf是电子费米波长，GO*为电导值的最小单位；通过公式2获得Au纳米触点的刚度值K： 其中，Δf＝f-f0，f0为LER探针的原始共振频率，k0为LER探针的原始弹簧常数；4Au纳米触点拉伸过程中，每隔一段时间会引入一个新的原子层作为原子插入层，通过公式4获得原子插入层的刚度值Klayer： 其中，Kafter为插入一个新原子层后Au纳米触点的刚度值，Kbefore为插入一个新原子层前Au纳米触点的刚度值；通过公式4获得原子插入层的杨氏模量Ylayer： 其中，llayer为原子插入层的层厚。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 郑州大学 一种金拉伸过程中原子插入层的杨氏模量的测量方法
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