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申请/专利权人：库利克和索夫工业公司
摘要：提供一种确定电子元件放置准确度对半导体封装中的引线弧的影响的方法，所述方法包括以下步骤：a提供用于半导体封装的封装数据，所述半导体封装包括电子元件；b模拟电子元件在相对于半导体封装中的基板的多个位置的放置；以及c使用软件工具确定电子元件的多个位置中的每一个对半导体封装中包含的多个引线弧的影响。
主权项：1.一种确定电子元件放置准确度对半导体封装中的引线弧的影响的方法，所述方法包括以下步骤：a提供用于半导体封装的封装数据，所述半导体封装包括电子元件；b模拟所述电子元件在相对于所述半导体封装中的基板的多个位置的放置；以及c使用软件工具确定所述电子元件的所述多个位置中的每一个对所述半导体封装中包含的多个引线弧的影响。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 库利克和索夫工业公司 确定电子元件放置准确度对半导体封装中的引线弧的影响的方法和相关方法
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