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申请/专利权人：武汉大学
摘要：本发明属于光学测量技术领域，公开了一种偏振特征参数测量系统及方法。本发明首先搭建偏振特征参数测量系统，采集得到若干张原始样本图像，接着在以黑板替换样本后，在偏振特征参数测量系统的参数保持不变的情况下，采集得到激光光斑图像，然后利用计算控制模块根据激光光斑图像重建激光椭圆光强分布，得到椭圆高斯光强分布图，将椭圆高斯光强分布图映射至若干张原始样本图像，得到若干张光强修正样本图像；进而计算得到样本对应的穆勒矩阵元素图像、偏振特性参数图像。本发明对原始样本图像进行了光强修正，能够快速消除激光光强高斯分布带来的影响，实现高精度的偏振特征参数测量。
主权项：1.一种偏振特征参数测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、搭建偏振特征参数测量系统，所述偏振特征参数测量系统包括光源模块、起偏调制模块、载物台、检偏解调模块、图像采集模块和计算控制模块；步骤2、将样本置于所述载物台的第一区域；所述光源模块发出的激光经所述起偏调制模块后斜入射至所述载物台上，反射光垂直出射并依次经过所述检偏解调模块和所述图像采集模块；利用所述计算控制模块控制所述起偏调制模块中第一旋转台和所述检偏解调模块中的第二旋转台的旋转角度，利用所述计算控制模块控制所述图像采集模块进行图像采集，得到若干张原始样本图像；步骤3、以黑板替换所述样本，将所述黑板置于所述载物台的第一区域；在所述偏振特征参数测量系统的参数保持不变的情况下，采集得到激光光斑图像；步骤4、利用所述计算控制模块，根据所述激光光斑图像重建激光椭圆光强分布，得到椭圆高斯光强分布图，将所述椭圆高斯光强分布图映射至若干张原始样本图像，得到若干张光强修正样本图像；步骤5、利用所述计算控制模块，根据若干张光强修正样本图像计算得到所述样本对应的穆勒矩阵元素图像；步骤6、利用所述计算控制模块，根据所述样本对应的穆勒矩阵元素图像计算得到所述样本对应的偏振特性参数图像。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉大学 一种偏振特征参数测量系统及方法
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