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申请/专利权人：成都态坦测试科技有限公司
摘要：本实用新型提供一种芯片老化柜，属于芯片检测技术领域。芯片老化柜包括柜体、测试箱、第一扰流板和风机装置；柜体限定出腔体；测试箱限定出容纳腔，测试箱设置在腔体中，以在测试箱和腔体的内壁之间限定出环形气流通道；测试箱的两相对侧分别设有进气部和排气部；容纳腔通过进气部和排气部与环形气流通道连通；多个第一扰流板相间隔的设置在容纳腔中，每一个第一扰流板均限定出导流通道；第一扰流板的一侧设有与导流通道连通的多个排气口；风机装置的进风端与排气部连通，风机装置的出风端与进气部连通。本实用新型提供的芯片老化柜能够使被测芯片周围的温度达到均压，以保证芯片测试温度的稳定性，提升对芯片的测试质量和测试的准确性。
主权项：1.一种芯片老化柜，其特征在于，包括：柜体，限定出腔体；测试箱，限定出容纳腔，所述测试箱设置在所述腔体中，以在所述测试箱和所述腔体的内壁之间限定出环形气流通道；沿第一方向，所述测试箱的两相对侧分别设有进气部和排气部；所述容纳腔通过所述进气部和所述排气部，与所述环形气流通道连通；多个第一扰流板，沿第二方向，相间隔的设置在所述容纳腔中，每一个所述第一扰流板均限定出导流通道；所述第一扰流板的一侧设有与所述导流通道连通的多个排气口，以使流经所述导流通道的气体能够通过所述导流通道从所述排气口排出；风机装置，设置在所述环形气流通道中，所述风机装置的进风端与所述排气部连通，所述风机装置的出风端与所述进气部连通；所述第一方向垂直于所述第二方向。
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百度查询： 成都态坦测试科技有限公司 一种芯片老化柜
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