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叶面积指数确定方法、装置、设备和介质 

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申请/专利权人:北京师范大学

摘要:本发明涉及植被参数测量技术领域,公开了一种叶面积指数确定方法、装置、设备和介质。该方法包括:获取对叶面积指数进行间接测量所得的一维样线数据,并基于一维样线数据和盒子计数法,确定一维样线数据对应的一维分维数;其中,一维分维数用于表征叶片分布特征;将一维分维数、叶片投影函数值、样线长度、一维样线数据对应的样线间隙率和叶片半径,输入目标聚集指数模型,确定一维样线数据对应的样线聚集指数;将样线聚集指数、叶片投影函数值和样线间隙率,输入间隙率模型,确定一维样线数据对应的样线叶面积指数。通过上述技术方案,对LAI间接测量方法中的聚集效应进行了较为充分的纠正,从而提高了叶面积指数的测量精准度。

主权项:1.一种叶面积指数确定方法,其特征在于,包括:获取对叶面积指数进行间接测量所得的一维样线数据,并基于所述一维样线数据和盒子计数法,确定所述一维样线数据对应的一维分维数;其中,所述一维分维数用于表征叶片分布特征;将所述一维分维数、叶片投影函数值、样线长度、所述一维样线数据对应的样线间隙率和叶片半径,输入目标聚集指数模型,确定所述一维样线数据对应的样线聚集指数;其中,所述目标聚集指数模型用于表征一维分维数变量、叶面积指数变量和聚集指数变量之间的换算关系;所述目标聚集指数模型基于叶片空间分布规律、叶片与样线的相交概率以及叶面积指数定义形式来构建,所述相交概率基于二项分布模型来确定;将所述样线聚集指数、所述叶片投影函数值和所述样线间隙率,输入间隙率模型,确定所述一维样线数据对应的样线叶面积指数;其中,所述目标聚集指数模型为: 其中,FD表示所述一维分维数,LAI表示叶面积指数,Ω表示所述样线聚集指数,Gθ表示观测天顶角θ方向上的所述叶片投影函数值,r表示所述叶片半径,L表示所述样线长度。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京师范大学 叶面积指数确定方法、装置、设备和介质

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