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申请/专利权人：成都飞机工业(集团)有限责任公司

摘要：本申请公开了一种飞机外形扫描误差矫正方法、装置、设备及介质，方法包括以下步骤：获取扫描待测表面对应的理论条纹调制度曲线；根据所述理论条纹调制度曲线，获得二阶斜率理论值；获取扫描所述待测表面对应的实际条纹调制度曲线；其中，所述实际条纹调制度曲线通过预设的光学测量系统对所述待测表面进行扫描测量获得；根据所述实际条纹调制度曲线，获得二阶斜率实际值；将所述二阶斜率实际值与所述二阶斜率理论值进行比较，以获得实际扫描步距，本申请具有可实现对扫描误差的矫正、提高了测量精度的优点。

主权项：1.一种飞机外形扫描误差矫正方法，其特征在于，包括以下步骤：获取扫描待测表面对应的理论条纹调制度曲线，所述理论条纹调制度曲线的表达式为： 式中，M表示条纹调制度，表示纵向扫描距离，表示焦面距离，表示瑞利长度，其中，表示介质折射率，表示光源中心波长，表示镜头数值孔径，代表投影光栅条纹空间频率，代表光学测量系统的截止频率，代表第一类贝塞尔曲线方程；所述光学测量系统包括从上到下依次布置的成像系统、第一透镜、分光镜和镜头，所述镜头用于对所述待测表面成像，所述分光镜一侧设有第二透镜，所述第二透镜一侧设置有微镜阵列，所述微镜阵列一侧设置有白光光源，所述微镜阵列用于衍射所述白光光源并产生正弦光栅条纹，所述光栅图像穿过所述第二透镜并经过所述分光镜；根据所述理论条纹调制度曲线，获得二阶斜率理论值，包括：获取所述正弦光栅条纹随所述纵向扫描距离变化的纵向响应曲线，所述纵向响应曲线的表达式为： 式中，Mmax表示条纹调制度最大值，e为常数，其中Z=Zposition×Δz，Δz表示纵向扫描步距，Zposition表示扫描位置，k表示光学测量系统参数，FWHM表示调整度曲线半宽，且FWHM为常数；将所述纵向响应曲线进行关于Zposition的二阶偏微分求解，以获得二阶斜率理论值K'，K'的表达式如下： 式中，c为常数；获取扫描所述待测表面对应的实际条纹调制度曲线；其中，所述实际条纹调制度曲线通过预设的光学测量系统对所述待测表面进行扫描测量获得；根据所述实际条纹调制度曲线，获得二阶斜率实际值；将所述二阶斜率实际值与所述二阶斜率理论值进行比较，以获得实际扫描步距。

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