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申请/专利权人：扬州大学
摘要：本发明公开了一种宽禁带半导体器件电学特性测试与预测方法，利用数字源表对待测的半导体器件进行供电；通过LabVIEW平台编写控制程序，实现对数字源表的自动化控制，测试器件的电学特性，并对数字源表采集的测试数据进行读取和保存；根据测试数据，使用Origin软件对半导体器件的电学特性曲线进行拟合，得到半导体器在高压大电流条件下的电学特性预测数据。本发明通过利用LabVIEW软件构建综合测试系统，实现对宽禁带半导体器件的特性进行精确测试，并创新地在LabVIEW中调用了Origin软件的数据分析拟合功能，基于实测数据外推预测其在高电压大电流工作条件下的性能。
主权项：1.一种宽禁带半导体器件电学特性测试与预测方法，其特征在于，包括：利用数字源表对待测的半导体器件进行供电；通过LabVIEW平台编写控制程序，实现对所述数字源表的自动化控制，测试器件的电学特性，并对所述数字源表采集的测试数据进行读取和保存；根据测试数据，使用Origin软件对所述半导体器件的电学特性曲线进行拟合，得到所述半导体器在高压大电流条件下的电学特性预测数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 扬州大学 一种宽禁带半导体器件电学特性测试与预测方法
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