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申请/专利权人：北京交通大学
摘要：IGBT短路电流可以作为判断IGBT老化状态的参数。短路电流值与IGBT工作结温密切相关，要区分一个短路电流值是正常IGBT在设定结温下观测的，还是故障IGBT在变化结温下观测，其中的关键是确定短路电流发生时的结温。本发明提供的方法利用短路激发电路，控制IGBT短路工况，采集IGBT短路电流，同时检测该时刻IGBT结温，构建IGBT短路电流与温度、老化程度变化的数据拟合关系图。再依据老化状态阈值作为判定标准划分相应的固定温度区间，在该温度区间内执行自激短路工作，产生自激短路电流，同时观测该短路电流，将短路电流与老化判定阈值比较进行IGBT健康程度评估。
主权项：1.一种识别IGBT老化状态的温度判据设定方法，其特征在于，包括下述步骤：获取实际IGBT模块相关老化参数；获取短路电流在同一温度下随健康状态变化关系以及在相同健康状态下随温度变化关系；构建拟合健康状态，温度，短路电流关系曲面图；根据关系曲面图通过温度区间划分的方式设定合适温度判据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京交通大学 一种识别IGBT老化状态的温度判据设定方法
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