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半导体集成电路装置和半导体集成电路装置的检查方法 

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申请/专利权人:日立安斯泰莫株式会社

摘要:本发明提供了一种半导体集成电路装置和半导体集成电路装置的检查方法,上述半导体集成电路装置中内置模拟电路及其诊断电路,其中,在晶片级老化时不使诊断电路动作,能够通过提高DSP的激活率而提高老化筛选品质。

主权项:1.一种半导体集成电路装置,其特征在于,包括:模拟电路;一端与所述模拟电路的输入侧连接的诊断电路;与所述模拟电路的输出侧和所述诊断电路的另一端连接的数字信号处理部;与所述模拟电路的输入侧连接,能够生成多个电压的电压生成电路;和设置在所述模拟电路与所述电压生成电路之间的开关电路,其在输入了老化切换信号时接通,在所述半导体集成电路装置的老化时,将老化切换信号输入至所述开关电路使其接通,来将所述模拟电路的输入从外部连接端子切换至所述电压生成电路,所述电压生成电路输出不使所述诊断电路发挥功能的多个电压。

全文数据:

权利要求:

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