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一种车规芯片中存储失效检测与修复方法及装置 

申请/专利权人:江苏云途半导体有限公司

申请日:2024-04-24

公开(公告)日:2024-07-02

公开(公告)号:CN118093293B

主分类号:G06F11/22

分类号:G06F11/22;G06F11/07;G06F11/30

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.07.02#授权;2024.06.14#实质审查的生效;2024.05.28#公开

摘要:本发明涉及一种车规芯片中存储失效检测与修复方法及装置,所述装置包括:所述装置和车规芯片存储总线相连以对车规芯片上设置的各类型存储单元进行监测;所述装置包括:片上存储总线监测模块、片上存储访问模块、片上存储冗余块替换控制模块、MFMU中断和复位模块;本发明采用热替换进行检测和修复方式,可以在操作系统运行时动态监测片上存储是否有潜在或永久失效风险,不需要停机,不会增加系统负担。

主权项:1.一种车规芯片中存储失效检测与修复装置,其特征在于,所述装置和车规芯片存储总线相连以对车规芯片上设置的各类型存储单元进行监测;所述装置包括:片上存储总线监测模块、片上存储访问模块、片上存储冗余块替换控制模块、MFMU中断和复位模块;所述片上存储总线监测模块,用于监测车规芯片是否达到内部监测条件;所述内部监测条件是:监测到车规芯片存储总线处于空闲状态的时间长度是否达到监测启动阈值;片上存储访问模块,用于基于固有的读传输逻辑发起对车规芯片上不同类型存储单元读传输,并记录ECC错误类型和数量;具体的:按照读传输比例发起对车规芯片上不同类型存储单元的读传输;并在读传输结束后通过和每个存储单元连接的ECC单元记录ECC错误类型和数量;其中:所述读传输比例是指在单元检测时间内或单位读传输次数内针对不同类型存储单元的读传输频率比值或次数比例;片上存储冗余块替换控制模块,用于记录车规芯片上设置的存储冗余块的使用信息;根据使用信息确定可用存储冗余块;根据所记录的ECC错误类型、数量、ECC错误存储地址和ECC错误类型,确定待替换块;通过存储总线配置使能各类型存储单元内部冗余块替换逻辑完成车规芯片上待替换块的替换;用可用存储冗余块替换待替换块;当不存在可用存储冗余块时;记录不存在可用存储冗余块的存储单元类型、ECC错误存储地址和ECC错误类型,并触发MFMU中断和复位模块;MFMU中断和复位模块,用于输出MFMU中断或者复位信号给车规芯片来指示车规芯片上存储出现ECC异常且无冗余块可以替换;所述按照读传输比例发起对车规芯片上不同类型存储单元的读传输,具体为:在内部监测情况下,固有的读传输逻辑按照默认的读传输比例发起对车规芯片上不同类型存储单元的读传输;根据默认的读传输比例依次对不同类型的存储单元发起访问请求和数据传输;此时,根据片上存储访问模块的相应寄存器单元的默认值发起对车规芯片上不同类型存储单元的读传输;在外部监测情况下,根据外部监测指令内的读传输比例计算各个类型存储单元的访问频率次数,并将所述访问频率次数写入片上存储访问模块的相应寄存器单元中,固有的读传输逻辑在执行针对不同类型存储单元的读传输操作的过程中,读取所述寄存器单元中的访问频率,并基于所述访问频率发起对车规芯片上不同类型存储单元的读传输;其中:所述外部监测情况是车规芯片操作系统所发起的,在操作系统发起外部监测时,在外部监测指令中写入动态计算的读传输比例。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 江苏云途半导体有限公司 一种车规芯片中存储失效检测与修复方法及装置

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