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一种基于倾斜白光扫描干涉的横向分辨率增强方法 

申请/专利权人:南京航空航天大学;南京航空航天大学苏州研究院

申请日:2024-03-08

公开(公告)日:2024-07-02

公开(公告)号:CN118274737A

主分类号:G01B11/24

分类号:G01B11/24;G06T17/00;G06F17/11;G06F17/16

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.07.19#实质审查的生效;2024.07.02#公开

摘要:本发明公开了一种基于倾斜白光扫描干涉的横向分辨率增强方法,包括:通过白光干涉仪对阶跃结构进行垂直扫描测量,获取多帧光强图像;基于多帧光强图像进行高度信息矩阵转化获得高度信息矩阵,将高度信息按照同样的图片位置坐标放置于矩阵中;分析高度信息矩阵,按照元素方差大小划分区域Ⅰ和区域Ⅱ;对载物平台进行倾斜控制,直至区域Ⅰ的元素总体方差达到阈值,记录此时的倾斜角度数据与高度信息矩阵;对载物平台进行连续倾斜控制,直至区域Ⅰ内的元素中低于理论计算公式高度的元素数量达到一定占比时,记录此时的倾斜角度数据与高度信息矩阵;建立两次倾斜角情况下的几何模型,利用两组倾斜角数据与高度信息矩阵,计算待测样件的目标横向尺寸。

主权项:1.一种基于倾斜白光扫描干涉的横向分辨率增强方法,其特征在于,包括:选取阶跃结构并放置在载物平台上,通过白光干涉仪对所述阶跃结构进行垂直扫描测量,获取多帧光强图像;基于所述多帧光强图像进行高度信息矩阵转化获得高度信息矩阵,将高度信息按照同样的图片位置坐标放置于矩阵中;分析所述高度信息矩阵,按照元素方差大小划分区域Ⅰ和区域Ⅱ;对所述载物平台进行倾斜控制,直至所述区域Ⅰ的元素总体方差达到阈值,记录此时的倾斜角度数据与所述高度信息矩阵;对所述载物平台进行连续倾斜控制,直至区域Ⅰ内的元素中低于理论计算公式高度的元素数量达到一定占比时,记录此时的倾斜角度数据与所述高度信息矩阵;建立两次倾斜角情况下的几何模型,利用两组倾斜角数据与所述高度信息矩阵,计算待测样件的目标横向尺寸。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 南京航空航天大学 南京航空航天大学苏州研究院 一种基于倾斜白光扫描干涉的横向分辨率增强方法

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