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申请/专利权人：华中科技大学
申请日：2024-04-30
公开（公告）日：2024-06-28
公开（公告）号：CN118259130A
主分类号：G01R31/26
分类号：G01R31/26
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.28#公开
摘要：本发明公开了一种基于开通延时阶段栅压积分的IGBT结温检测系统及方法，属于电力电子领域。该系统包括：驱动芯片及与之连接的结温计算单元；结温计算单元输出PWM信号至驱动芯片；驱动芯片包括结温检测模块和驱动模块；驱动模块用于放大输入的PWM信号，产生输出电流输出至待测IGBT，控制待测IGBT的开启和关断；结温检测模块在待测IGBT的开通延时阶段，获取待测IGBT的栅极电压并进行积分；结温计算单元还接受结温检测模块输出的栅极电压积分，并根据结温标定实验得到的栅极电压积分‑结温的函数模型，实时得到结温检测结果。提高了检测灵敏度，实现对IGBT结温的实时检测。
主权项：1.一种基于开通延时阶段栅压积分的IGBT结温检测系统，其特征在于，包括：驱动芯片及与之连接的结温计算单元；所述结温计算单元用于输出PWM信号至驱动芯片；所述驱动芯片包括结温检测模块和驱动模块；所述驱动模块用于放大输入的PWM信号，产生输出电流输出至待测IGBT，控制所述待测IGBT的开启和关断；所述结温检测模块用于在待测IGBT的开通延时阶段，获取所述待测IGBT的栅极电压并进行积分；所述结温计算单元还用于接受所述结温检测模块输出的栅极电压积分，并根据结温标定实验得到的栅极电压积分-结温的函数模型，实时得到结温检测结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华中科技大学 一种基于开通延时阶段栅压积分的IGBT结温检测系统及方法
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