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申请/专利权人：山东华芯半导体有限公司
摘要：本发明涉及存储器领域，具体涉及一种在LUN工作数量限制下的SSD可靠性测试方法，包括以下步骤：S01）设定SSD测试总轮次为n；S02）对被测试SSD下发注错命令，使LUN工作数量到达最小值，S03）对SSD的前M%空间写入数据S04）对SSD的后（100‑M）%空间读写数据，同时下发正断异断热插拔命令；S05）查看被测试SSD状态是否正常；S06）若是，则对被测试SSD前M%空间进行校验；若不是，则测试失败且测试结束；S07）判定校验完成后的SSD的轮次是否达到n；S08）若否，对校验完成后的SSD重复步骤S04）~S07）；若是，则测试结束。本发明可测试SSD在极限性能时的数据错误率和故障率，其方案接近真实场景，可提前发现潜在故障，可为提高SSD可靠性和耐久性提供借鉴。
主权项：1.一种在LUN工作数量限制下的SSD可靠性极限测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S01）设定SSD测试总轮次为n；S02）对被测试SSD下发注错命令，使LUN工作数量到达最小值，此时，SSD读写速度到达最小值；S03）对SSD的前M%空间写入数据，其中M的范围是5~50；S04）对SSD的后（100-M）%空间读写数据，在读写过程中，对被测试SSD随机下发正断异断热插拔命令；S05）查看被测试SSD状态是否正常；S06）若是，则对被测试SSD前M%空间进行校验；若不是，则测试失败且测试结束；S07）判定校验完成后的SSD的轮次是否达到n；S08）若否，对校验完成后的SSD重复步骤S04）~S07）；若是，则测试结束。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 山东华芯半导体有限公司 一种在LUN工作数量限制下的SSD可靠性测试方法
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