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申请/专利权人：安徽科瑞思创晶体材料有限责任公司
摘要：本发明公开了一种用于TGG晶片检测的光学检测系统，属于TGG晶片检测技术领域，包括晶片光性库、规划模块、检测模块和服务器；所述晶片光性库用于进行TGG晶片的光学特性数据储存；所述规划模块用于进行TGG晶片的光学检测规划，设置TGG晶片检测方案，获取TGG晶片检测区，并根据获得的TGG晶片检测方案在TGG晶片检测区布设相应的检测设备；所述检测模块用于进行TGG晶片的光学检测，通过设置规划模块，为企业设置TGG晶片检测方案，根据设置的TGG晶片检测方案进行检测设备的布设和后续TGG晶片的检测，实现TGG晶片的自动化和智能化检测，大大提高TGG晶片的检测效率。
主权项：1.一种用于TGG晶片检测的光学检测系统，其特征在于，包括晶片光性库、规划模块、检测模块和服务器；所述晶片光性库用于进行TGG晶片的光学特性数据储存；所述规划模块用于进行TGG晶片的光学检测规划，设置TGG晶片检测方案，获取TGG晶片检测区，并根据获得的TGG晶片检测方案在TGG晶片检测区布设相应的检测设备；所述检测模块用于进行TGG晶片的光学检测，具体方法包括：对经过TGG晶片检测区的TGG晶片通过相应的检测设备采集检测数据，将采集的检测数据整合为分析数据，从晶片光性库中匹配对应的TGG晶片光学特性数据；根据检测设备特性采集当前检测区域的环境因子，建立检测模型，将TGG晶片光学特性数据、分析数据和环境因子整合为检测输入数据，将检测输入数据输入到检测模型中，获得检测结果，检测结果包括检测合格和检测不合格，对检测结果为检测不合格的TGG晶片进行标记，并筛选出被标记的TGG晶片。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 安徽科瑞思创晶体材料有限责任公司 一种用于TGG晶片检测的光学检测系统
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