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龙图腾网恭喜深圳市华星光电半导体显示技术有限公司申请的专利显示模组、显示模组的测试方法及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114597243B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210197223.6，技术领域涉及：H10K59/12；该发明授权显示模组、显示模组的测试方法及电子设备是由申郑设计研发完成，并于2022-03-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本显示模组、显示模组的测试方法及电子设备在说明书摘要公布了：本申请实施例公开了一种显示模组、显示模组的测试方法及电子设备，该显示模组包括：第一绑定区，包括多个控制信号线；第二绑定区，包括多个控制信号线组，每一控制信号线组由多个控制信号线中的多个同类型的控制信号线组成，其中，每一控制信号线组中的多个同类型的控制信号线相互短接；第一切割道，设置在第二绑定区远离第一绑定区一侧，第一切割道用于形成多个控制信号线组对应的多个第一测试点；检测装置，用于分别对多个第一测试点进行绑定测试，得到多个控制信号线组对应的多个第一测试结果。本申请通过在第二绑定区将部分同类型的控制信号线短接的方式，设计出满足模组测试需求的中间形态，降低研发测试成本，加快项目开发进度。

本发明授权显示模组、显示模组的测试方法及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种显示模组，其特征在于，包括：第一绑定区，所述第一绑定区包括多个控制信号线；第二绑定区，所述第二绑定区包括多个控制信号线组，每一所述控制信号线组由所述多个控制信号线中的多个同类型的控制信号线组成，其中，每一所述控制信号线组中的所述多个同类型的控制信号线相互短接；第一切割道，所述第一切割道设置在所述第二绑定区远离所述第一绑定区一侧，所述第一切割道用于形成所述多个控制信号线组对应的多个第一测试点；第二切割道，设置在所述第一绑定区和所述第二绑定区之间，所述第二切割道用于形成所述第一绑定区中所述多个控制信号线对应的多个第二测试点，所述第二测试点的数量与所述第一绑定区中的所述控制信号线的数量相同，以实现对单个像素单元的单独控制测试；检测装置，所述检测装置用于分别对所述多个第一测试点进行绑定测试，得到所述多个控制信号线组对应的多个第一测试结果，所述检测装置还用于：若所述多个第一测试结果均为合格结果，则分别对多个第二测试点进行绑定测试，得到所述多个控制信号线对应的多个第二测试结果；若所述多个第一测试结果中包括不合格结果，则确定不合格的第一测试结果对应的目标控制信号线组；分别对所述目标控制信号线组中的多个同类型的目标控制信号线对应的多个第二测试点进行绑定测试，得到不合格的目标第二测试结果。

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