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摘要：本发明涉及芯片老化测试技术领域，公开了一种芯片老化测试分选设备，包括承载芯片单体的老化测试部、检测主机、分选部及收集部，所述老化测试部一侧安装有对芯片单体进行老化测试的检测主机，所述老化测试部顶部配合设置有分选部，所述分选部一侧配合设置有收集部，所述老化测试部包括外壳、承载座、盖板、开合机构、加压机构及顶升机构，所述外壳上固定设置有开合机构，所述开合机构的输出端与盖板固定连接，所述外壳与盖板间配合有加压机构，本发明在进行老化检测时，将盖板的滑动与芯片单体取出老化测试部的动作有机结合，再通过分选部进行分选，全程操作高度自动化，且过渡平顺，有利于提高整体的测试效率。

主权项：1.一种芯片老化测试分选设备，其特征在于，包括承载芯片单体（5）的老化测试部（1）、检测主机（2）、分选部（3）及收集部（4），所述老化测试部（1）一侧安装有对芯片单体（5）进行老化测试的检测主机（2），所述老化测试部（1）顶部配合设置有分选部（3），所述分选部（3）一侧配合设置有收集部（4）；所述老化测试部（1）包括外壳（11）、承载座（12）、盖板（13）、开合机构（14）、加压机构（15）及顶升机构（16），所述外壳（11）中滑动设置有与检测主机（2）检测端配合的承载座（12），所述外壳（11）的顶口（40）处滑动设置有盖板（13），所述外壳（11）上固定设置有开合机构（14），所述开合机构（14）的输出端与盖板（13）固定连接，所述外壳（11）与盖板（13）间配合有加压机构（15），所述外壳（11）中设置有驱动承载座（12）上下移动的顶升机构（16）；所述加压机构（15）包括板体（151）、导槽（152）、套管（153）、压杆（154）及连杆（155），所述外壳（11）顶部一侧固定设置有板体（151），所述板体（151）中开设有导槽（152），所述盖板（13）的中心处固定设置有套管（153），所述套管（153）中滑动设置有贯穿盖板（13）的压杆（154），所述压杆（154）顶部固定连接有连杆（155），所述连杆（155）的端部与导槽（152）配合，所述导槽（152）呈折线状，靠近开合机构（14）最远端的槽体高于外壳（11）侧的槽体；所述顶升机构（16）包括电机（161）、中心齿轮（162）、边侧齿轮（163）及顶起件（164），所述外壳（11）中固定设置有电机（161），所述电机（161）的输出端上固定安装有中心齿轮（162），所述电机（161）的周侧设置有若干个顶起件（164），所述顶起件（164）上安装有与中心齿轮（162）配合的边侧齿轮（163）；所述顶起件（164）包括连接环（1640）、筒体（1641）、柱头（1642）、立轴（1643）、键轴（1644）、键杆（1645）、顶柱（1646）及弹簧（1647），所述筒体（1641）上固定套接有连接环（1640），所述连接环（1640）与外壳（11）内壁固定连接，所述筒体（1641）底部转动安装有柱头（1642），所述柱头（1642）底部固定安装有立轴（1643），所述边侧齿轮（163）固定套接在立轴（1643）上，所述柱头（1642）顶部固定安装有键轴（1644），所述键轴（1644）顶部配合设置有键杆（1645），所述键杆（1645）顶部固定连接有顶柱（1646），所述顶柱（1646）与筒体（1641）滑动配合，所述键杆（1645）与筒体（1641）间安装有弹簧（1647），所述顶柱（1646）顶端与承载座（12）挤压接触；所述键轴（1644）的边沿上对称地固定设置有凸条（16440），所述键杆（1645）的底部设置有弧形边沿（16450），且键杆（1645）的底部对称地设置有凹槽（16451）。

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