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电容、性能测试设备及性能测试方法 

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摘要:本申请属于功率测试技术领域,尤其涉及一种电容、性能测试设备及性能测试方法,该电容包括本体以及与本体连接的绝缘部、正极输入件、负极输入件、正极输出件和负极输出件,正极输出件具有外露于本体的正极连接部;负极输出件具有外露于本体的负极连接部,绝缘部位于正极连接部和负极连接部之间;其中,正极连接部与绝缘部之间形成第一穿设空间,第一穿设空间用于供第一电流测试线圈穿设,以使得第一电流测试线圈能够套设于正极连接部;负极连接部与绝缘部之间形成第二穿设空间,第二穿设空间用于供第二电流测试线圈穿设,以使得第二电流测试线圈能够套设于负极连接部,该电容可最小化影响回路的杂感值,提高功率半导体器件性能标定的准确性。

主权项:1.一种电容,其特征在于,包括本体以及与所述本体连接的绝缘部、正极输入件、负极输入件、正极输出件和负极输出件,所述正极输出件具有外露于所述本体的正极连接部;所述负极输出件具有外露于所述本体的负极连接部,所述绝缘部位于所述正极连接部和所述负极连接部之间;其中,所述正极连接部与所述绝缘部之间形成第一穿设空间,所述第一穿设空间用于供第一电流测试线圈穿设,以使得所述第一电流测试线圈能够套设于所述正极连接部;所述负极连接部与所述绝缘部之间形成第二穿设空间,所述第二穿设空间用于供第二电流测试线圈穿设,以使得所述第二电流测试线圈能够套设于所述负极连接部。

全文数据:

权利要求:

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