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摘要：本发明提供一种低拉曼背景无咖啡环集聚纳米银测试芯片及制造方法，包括：玻璃载玻片、金属底膜层以及氟化二氧化硅纳米膜强疏水层，所述金属底膜层位于所述氟化二氧化硅纳米膜强疏水层的下方；所述玻璃载玻片位于所述金属底膜层的下方；所述氟化二氧化硅纳米膜强疏水层在滴加纳米银胶体时，其产生的疏水角度需不低于137度，采用复合金属膜、强疏水层的结构来避免纳米银胶体干燥后的咖啡环效应，将纳米银胶体集聚于激光打标点。该芯片不仅拉曼背景信号低，提升拉曼光谱信号强度，加快样品测试速度，节省表征时间，还为光谱测试芯片提供新思路。
主权项：1.一种低拉曼背景无咖啡环集聚纳米银测试芯片，其特征在于，包括：玻璃载玻片、金属底膜层以及氟化二氧化硅纳米膜强疏水层，所述金属底膜层位于所述氟化二氧化硅纳米膜强疏水层的下方；所述玻璃载玻片位于所述金属底膜层的下方；所述氟化二氧化硅纳米膜强疏水层在滴加纳米银胶体时，其产生的疏水角度需不低于137度。
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百度查询： 海宁辰英科技有限公司 一种低拉曼背景无咖啡环集聚纳米银测试芯片及制造方法
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