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申请/专利权人：湘潭大学
摘要：本发明公开了一种用于复杂光照条件下基于频移条纹投影的三维形状测量方法，包括以下步骤：首先引入窗函数分析，确定最高条纹图案采样频率和步长，生成相移图案并投影；接着通过四步相移法从相移图案中得到复信号的频谱，利用离散傅里叶变换获取傅里叶频谱图；然后利用极线约束，精确定位傅里叶域频谱响应峰值对应的直接光照位置；最后通过直接光照位置获得投影机和相机像素之间的同名点，基于三角测量生成深度图，完成高精度三维测量。本发明消除了环境光的干扰，构建直接光照和间接光照特征模型，准确获得直接光照信息，在表面测量中的成像效率和鲁棒性显著提高，实现在强互反射复杂光照环境下高精度、高质量、高效率三维测量。
主权项：1.一种用于复杂光照条件下基于频移条纹投影的三维形状测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：引入窗函数分析，确定最高条纹图案采样频率和步长，生成相移图案并投影；步骤二：通过四步相移法从相移图案中得到复信号的频谱，利用离散傅里叶变换获取傅里叶频谱图；步骤三：利用极线约束，精确定位傅里叶域频谱响应峰值对应的直接光照位置；步骤四：通过直接光照位置获得投影机和相机像素之间的同名点，基于三角测量生成深度图。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 湘潭大学 一种用于复杂光照条件下基于频移条纹投影的三维形状测量方法
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