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申请/专利权人：中国科学院自动化研究所
摘要：本发明提供一种基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法及装置。该方法包括：获取第一均匀亮度调制图像中像素饱和区域所对应的投影仪像素的最佳投射灰度值，并基于第一编码条纹调制图像获取第一均匀亮度调制图像中像素饱和区域与投影仪投射平面对应区域之间的单应性关系，然后基于该单应性关系将最佳投射灰度值映射至投影仪对应位置，得到区域自适应亮度编码条纹图像，最后基于所述区域自适应亮度编码条纹图像获取物体表面的三维点云。本发明提供的基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法及装置，有效解决了结构光系统在测量高反光被测物体表面时容易出现的点云大面积丢失现象，提高了对这类物体表面三维重建的精确度。
主权项：1.一种基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法，其特征在于，包括：获取经物体表面调制的图像；所述经物体表面调制的图像包括相机拍摄的第一均匀亮度调制图像以及第一编码条纹调制图像；获取所述第一均匀亮度调制图像中像素饱和区域所对应的投影仪像素的最佳投射灰度值，并基于所述第一编码条纹调制图像获取所述第一均匀亮度调制图像中各个像素饱和区域与投影仪投射平面对应区域之间的单应性关系；基于所述单应性关系将所述最佳投射灰度值映射至投影仪投射平面的对应位置，得到区域自适应亮度编码条纹图像；基于所述区域自适应亮度编码条纹图像获取物体表面的三维点云。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院自动化研究所 基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法及装置
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