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申请/专利权人：深圳市镭神智能系统有限公司
摘要：本申请公开了一种介质层厚度测量方法，包括：获取激光雷达关于当前介质层的反射点云和虚拟折射点云；定义标准反射点云数据，标准虚拟折射点云数据和标准雷达位置信息；根据标准雷达位置信息和标准反射点云数据得到激光束到达介质层界面时的入射角α；根据入射角α和介质层，得到激光雷达在介质层中的折射角β；根据入射角α、折射角β，标准虚拟折射点云数据和标准反射点云数据，得到介质层的厚度值。本申请还公开了与之对应的存储介质及计算机设备。由此，基于标准雷达位置信息和标准反射点云数据得到入射角α，再根据入射角α得到折射角β；再基于入射角α，折射角β，标准虚拟折射点云数据和标准反射点云数据得到准确的介质层厚度值。
主权项：1.介质层厚度测量方法，其特征在于，包括：获取激光雷达关于当前介质层的反射点云和虚拟折射点云，所述反射点云为激光雷达根据激光束到达介质层界面时发生反射的点云，所述虚拟折射点云为激光雷达根据介质层底部对激光束进行反射得到的点云；定义标准反射点云数据，标准虚拟折射点云数据和标准雷达位置信息，所述标准反射点云数据为当前坐标系下所述反射点云根据标准坐标系转换得到的点云数据；所述标准虚拟折射点云数据为当前坐标系下所述虚拟折射点云根据标准坐标系转换得到的点云数据；所述标准雷达位置信息为标准坐标系下激光雷达的位置信息；所述标准坐标系为XY轴平面平行于介质层界面且Z轴垂直于介质层界面的坐标系；根据标准雷达位置信息和标准反射点云数据得到激光束到达介质层界面时的入射角α；根据所述入射角α和介质层，得到激光雷达在介质层中的折射角β；根据所述入射角α、折射角β，标准虚拟折射点云数据和标准反射点云数据，得到介质层的厚度值；所述根据所述入射角α、折射角β，标准虚拟折射点云数据和标准反射点云数据，得到介质层的厚度值，包括：根据标准虚拟折射点云数据和标准反射点云数据，得到标准虚拟折射点云与介质层界面的距离d；根据标准虚拟折射点云数据与介质层界面的距离d和入射角α，得到反射点云和虚拟折射点云的距离l；根据反射点云和虚拟折射点云的距离l和折射角β，得到介质层的厚度值D。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市镭神智能系统有限公司 介质层厚度测量方法、存储介质及计算机设备
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