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申请/专利权人:群联电子股份有限公司
摘要:本发明提供一种平均磨损方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元。所述平均磨损方法包括:取得每一个实体抹除单元的开放比特数;判断是否存在开放比特数大于第一阈值的第一实体抹除单元;以及响应于存在开放比特数大于第一阈值的第一实体抹除单元,对第一实体抹除单元执行第一平均磨损操作。
主权项:1.一种平均磨损方法,其特征在于,用于可复写式非易失性存储器模块,所述可复写式非易失性存储器模块包括多个实体抹除单元,所述平均磨损方法包括:取得各所述多个实体抹除单元的开放比特数;判断是否存在所述开放比特数大于第一阈值的第一实体抹除单元;以及响应于存在所述开放比特数大于所述第一阈值的所述第一实体抹除单元,对所述第一实体抹除单元执行第一平均磨损操作。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 群联电子股份有限公司 平均磨损方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元
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