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申请/专利权人：上海灵动微电子股份有限公司

摘要：本发明公开了一种DFT信号数据处理方法、DFT设计方法及验证方法，包括：将输入的DFT信号总表拆分为不同表格，生成不同的输入数据文件；将生成的输入数据文件分别放入DFT设计模块和DFT验证模块的输入文件夹；DFT脚本对DFT设计模块或DFT验证模块的输入文件夹进行数据处理操作。本发明实施例解决了SOC级DFT设计功能点不完备、改动易被遗漏、代码复用性差导致芯片开发时间长的问题，以及SOC级DFT验证效率低下、芯片测试覆盖率较低、芯片流片成功率低的问题，增加了DFT设计、验证覆盖率，提高了芯片可测性以及测试可靠性。

主权项：1.一种DFT信号数据处理方法，其特征在于，所述方法包括：将输入的DFT信号总表拆分为不同表格，生成不同的输入数据文件，具体包括：将输入的DFT信号总表通过脚本转为中间文本文件；根据信号名，对信号进行分类排序，所述信号包括：模拟输入信号、模拟输出信号、IO输入信号、IO输出信号、存储器输入信号、存储器输出信号、跨电压域输入信号、跨电压域输出信号；根据测试模式优先级和信号排序，生成每种测试模式下的第一对应文件；确定在每种测试模式下，DFT设计需要使用的信号名与设计期望值，并生成第二对应文件；确定在每种测试模式下，非DFT设计复用信号的信号名、设计期望值、验证期望值，及DFT设计复用信号的验证激励值，生成第三对应文件；将生成的输入数据文件分别放入DFT设计模块和DFT验证模块的输入文件夹；DFT脚本对DFT设计模块或DFT验证模块的输入文件夹进行数据处理操作，其中，DFT脚本对DFT设计模块的输入文件夹进行数据处理操作具体包括：对比每种测试模式下非DFT设计复用信号的设计期望值与验证期望值，如果不一致则修改验证期望值；根据第一对应文件，生成每种测试模式下的输入输出信号文件；根据第一对应文件、第二对应文件，生成每种测试模式下需要用到的内部信号文件；根据第一对应文件，第三对应文件，将DFT设计期望值与信号名进行一一对应，若某根信号的DFT设计期望值为掩码，则在这种测试模式下DFT设计不使用该信号，信号期望值为默认上电复位值；DFT脚本对DFT验证模块的输入文件夹进行数据处理操作具体包括：根据第一对应文件和第三对应文件，将DFT验证期望值与非DFT设计复用信号进行一一对应，若某根信号的DFT验证期望值为掩码，则在这种测试模式下不检查该信号；根据第二对应文件，将每种测试模式下需要的复用信号，按照输入输出信号进行分类；将每种测试模式下的DFT设计复用信号的验证激励值与输入信号名进行一一对应；将每种测试模式下的DFT设计复用信号的验证期望值与输出信号名进行一一对应。

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