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申请/专利权人：成都翌创微电子有限公司
摘要：本发明公开了一种在DFT模式下的芯片鉴权装置及方法，涉及集成电路设计和测试领域。装置包括依次连接的JTAG接口电路、DFT测试控制电路和待测试芯片逻辑电路；JTAG接口电路包括JTAG调试接口和调试接口鉴权寄存器，分别用于接收和暂存输入的秘密值；DFT测试控制电路包括DFT鉴权逻辑模块和DFT控制逻辑模块，DFT鉴权逻辑模块用于比较被测芯片的固定key值与输入的秘密值是否相等，输出DFT鉴权使能信号到DFT控制逻辑模块；DFT控制逻辑模块用于根据DFT鉴权使能信号进行DFT测试模式的切换和进行DFT测试；待测试芯片逻辑电路包括系统鉴权逻辑。本发明通过在DFT测试控制电路中加入DFT鉴权逻辑代替系统鉴权逻辑，把系统鉴权逻辑纳入DFT测试范围，从而提高DFT测试率，提高芯片良率。
主权项：1.一种在DFT模式下的芯片鉴权装置，其特征在于：包括依次连接的JTAG接口电路、DFT测试控制电路和待测试芯片逻辑电路；所述JTAG接口电路包括JTAG调试接口和调试接口鉴权寄存器，所述JTAG调试接口用于接收外部输入的秘密值，所述调试接口鉴权寄存器用于暂存所述秘密值；所述DFT测试控制电路包括DFT鉴权逻辑模块和DFT控制逻辑模块，所述DFT鉴权逻辑模块用于比较被测芯片的固定key值与所述外部输入的秘密值是否相等，输出DFT鉴权使能信号到所述DFT控制逻辑模块；DFT控制逻辑模块用于根据所述DFT鉴权使能信号进行DFT测试模式的切换；所述待测试芯片逻辑电路包括系统鉴权逻辑。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 成都翌创微电子有限公司 一种在DFT模式下的芯片鉴权装置及方法
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