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申请/专利权人:成都曙创大能科技有限公司
摘要:本发明提供了一种精确测量物体尺寸的方法、系统及电子设备,涉及不规则轮廓表面的计量领域,包括:将测径仪和或待测部位沿预设轴线周期性偏摆,获取关于待测部位的尺寸数据的波形图;确定目标波形曲线上的所有极值点;根据各极值点的分布,从各极值点中找到对称极值点;结合对称极值点的极性和其余各极值点的数量与分布,得到用以表征待测部分尺寸的目标极值点,将目标极值点所对应的尺寸数据作为待测部位的尺寸。本发明解决了现有技术中存在的当测量装置和被测物发生位置关系的改变,尤其是当被测物小范围翻转时其测量精度则会变得相对较差的问题。
主权项:1.一种精确测量物体尺寸的方法,其特征在于,包括:将测径仪2和或待测部位沿预设轴线周期性偏摆,以不断改变所述测径仪2和所述待测部位的相对位置,并利用所述测径仪2的光源投影获取关于所述待测部位的尺寸数据的波形图;从所述波形图中获取一个偏摆周期的目标波形曲线,确定所述目标波形曲线上的所有极值点;根据各所述极值点的分布,从各所述极值点中找到对称极值点,其中,所述对称极值点表征为偏摆过程中所述测径仪2和或待测部位处于拐点时所获取到的尺寸数据;结合所述对称极值点的极性和其余各所述极值点的数量与分布,得到用以表征待测部分尺寸的目标极值点,将所述目标极值点所对应的尺寸数据作为待测部位的尺寸。
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