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校准检测结构及存储器 

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申请/专利权人:长鑫存储技术有限公司

摘要:本公开涉及一种校准检测结构及存储器,校准检测结构包括:标识产生模块,被配置为,产生第一标识信号、第二标识信号和第三标识信号,其中,第一标识信号用于指示校准主芯片或校准从芯片是否正在进行校准过程,第二标识信号用于指示校准主芯片或校准从芯片是否完成校准,若设置于校准主芯片中,第三标识信号用于指示校准主芯片所属的校准环是否完成校准,若设置于校准从芯片中,第三标识信号用于指示校准从芯片是否完成校准;计时模块,被配置为,产生第一计数值;触发模块,被配置为,基于第一计数值和第一标识信号产生第一错误标识信号,其中,当第一计数值为有效数值且第一标识信号为有效电平,产生的第一错误标识信号为有效电平。

主权项:1.一种校准检测结构,其特征在于,设置于校准主芯片和校准从芯片中,包括:标识产生模块,被配置为,产生第一标识信号、第二标识信号和第三标识信号,其中,所述第一标识信号用于指示所述校准主芯片或所述校准从芯片是否正在进行校准过程,所述第二标识信号用于指示所述校准主芯片或所述校准从芯片是否完成校准,若设置于所述校准主芯片中,所述第三标识信号用于指示所述校准主芯片所属的校准环是否完成校准,若设置于所述校准从芯片中,所述第三标识信号用于指示所述校准从芯片是否完成校准;计时模块,被配置为,产生第一计数值;触发模块,被配置为,基于所述第一计数值和所述第一标识信号产生第一错误标识信号,其中,当所述第一计数值为有效数值且所述第一标识信号为有效电平,产生的所述第一错误标识信号为有效电平。

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权利要求:

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