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申请/专利权人：广东鸿钧微电子科技有限公司
摘要：本发明提供了一种老化观测电路及芯片，涉及集成电路技术领域。该老化观测电路应用于芯片，该芯片包括至少两个待测模块，以为老化观测电路提供数据信号。其中，老化观测电路包括决策模块、至少两条检测模块。待测模块与检测模块一一对应。检测模块，用于依据数据信号得到对应待测模块的检测信号；检测信号用于表征待测模块的翻转状态；决策模块，用于依据各检测信号判断芯片是否合格，并得到观测信号，以通过观测信号指示芯片的监测结果。本发明能够在不改变现有芯片中测试引脚的数量的基础上，实时监测尽可能多的底层模块所对应的检测输出信号，简化老化检测流程，并节约大量老化测试时间。
主权项：1.一种老化观测电路，应用于芯片，所述芯片包括至少两个待测模块，各待测模块的信号输出端均与所述老化观测电路的输入端连接，以为所述老化观测电路提供数据信号；其特征在于，所述老化观测电路包括决策模块、至少两条检测模块，所述待测模块与所述检测模块一一对应，各待测模块的信号输出端与各检测模块的输入端连接，各检测模块的输出端均与所述决策模块的输入端连接；其中，所述检测模块，用于依据所述数据信号得到对应待测模块的检测信号；其中，所述检测信号用于表征所述待测模块的翻转状态；所述决策模块，用于依据各检测信号判断所述芯片是否合格，并得到观测信号，以通过所述观测信号指示所述芯片的监测结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 广东鸿钧微电子科技有限公司 一种老化观测电路及芯片
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