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光谱仪及光谱分析方法 

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申请/专利权人:台州精奥矩阵科技有限公司

摘要:本发明公开了一种光谱仪及光谱分析方法。所述光谱仪包括光源组件、缩束器、样品放置部、第一检测器和第二检测器,其中,所述光源组件包括光源和用于对所述光源进行干涉生成干涉光的干涉仪;所述缩束器内设置有分束镜和折反镜,所述分束镜位于所述干涉仪的出光侧,分束镜用于对所述干涉光进行分光生成参考光和测试光,折反镜用于改变所述测试光的方向;所述样品放置部设置于所述折反镜测试光的出光侧以用于放置待检测的样品;所述第一检测器设置于所述分束镜参考光的出光侧以用于检测所述参考光;所述第二检测器设置于所述样品放置部的出光侧以用于检测所述测试光。本申请的光谱仪能够解决现有技术中的单光路的光谱仪光谱分析准确性低的问题。

主权项:1.一种光谱仪,其特征在于,包括:光源组件,所述光源组件包括光源和用于对所述光源进行干涉生成干涉光的干涉仪;缩束器(10),所述缩束器(10)内设置有分束镜(11)和折反镜(12),所述分束镜(11)位于所述干涉仪的出光侧,所述分束镜(11)用于对所述干涉光进行分光生成参考光和测试光,所述折反镜(12)用于改变所述测试光的方向;样品放置部(20),所述样品放置部(20)设置于所述折反镜(12)测试光的出光侧以用于放置待检测的样品;第一检测器(30),所述第一检测器(30)设置于所述分束镜(11)参考光的出光侧以用于检测所述参考光;第二检测器(40),所述第二检测器(40)设置于所述样品放置部(20)的出光侧以用于检测所述测试光。

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