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用于操作检查触点的设备 

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申请/专利权人:派克泰克封装技术有限公司

摘要:本发明涉及一种用于操作检查触点100的设备10,其具有在其接触端部16处设有检查触点容纳部14的接触头12,其中检查触点容纳部14具有定位装置18,所述定位装置具有至少两个、优选三个定位面20,22,24,所述定位面用于起定位作用地贴靠在检查触点100处和用于将检查触点100相对于接触头12的接触端部16定位,其中定位装置18的至少一个定位面20,22,24构成为基座贴靠面20并且定位装置18的至少一个另外的定位面构成为边缘贴靠面22。此外,本发明涉及一种用于制造用于检查半导体器件的接触触点装置的生产系统50。

主权项:1.一种用于操作检查触点100的设备10,所述设备10具有在其接触端部16处设有检查触点容纳部14的接触头12,其中所述检查触点容纳部14具有定位装置18,所述定位装置18具有至少两个、优选三个定位面20,22,24,所述定位面20,22,24用于起定位作用地贴靠在检查触点100处和用于将所述检查触点100相对于所述接触头12的所述接触端部16定位,其特征在于,所述定位装置18的至少一个定位面20,22,24构成为基座贴靠面20并且所述定位装置18的至少一个另外的定位面构成为边缘贴靠面22。

全文数据:

权利要求:

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