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申请/专利权人：展讯半导体(成都)有限公司
摘要：本申请涉及电子技术领域，尤其涉及一种静电释放检测方法及装置，该方法包括：启动静电释放ESD检测，在检测到LCD存在ESD问题时，再检测撕裂效应TE信号是否正常，在所述TE信号正常时，刷新LCD，避免了因静电释放对LCD硬件干扰造成TE信号消失使得系统卡死定屏问题，加快了ESD恢复速度，提高了用户体验。
主权项：1.一种静电释放检测方法，其特征在于，应用于功能机，所述方法包括：启动静电释放ESD检测；在检测到液晶显示屏LCD存在ESD问题时，检测撕裂效应TE信号是否正常，其中，所述ESD问题的检测包括：获取ESD信号量，所述ESD信号量用于指示当前的运行程序，并将获取的所述ESD信号量给ESD检测程序以保证ESD全局变量仅被ESD检测程序占有，在获取ESD信号量后等待第一时长之后执行ESD检测程序，所述第一时长为一帧图片显示完成的时长；若ESD全局变量为第一值，表示运行ESD检测程序时显示程序还未运行完成，发生ESD问题中的LCD显示定屏问题；在所述TE信号正常时，刷新所述LCD。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 展讯半导体(成都)有限公司 静电释放检测方法及装置
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