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申请/专利权人：上海电器科学研究所(集团)有限公司

摘要：本发明公开了一种用于多舱段物理参数测量的综合检测系统，其特征在于，包括：自动物流子系统；质量质心特性参数检测装置；外形扫描子系统；信息处理子系统。本发明提供的综合检测系统可兼容多种型号舱段以及多种物理参数的高精度测量，同时在检测系统中提供了一种自动物流解决方法。本发明公开的综合检测系统中采用非接触式测量方法，亦可保证产品本身的安全，也消除了人工测量结果的主观性和随机性，提高测量的效率。

主权项：1.一种用于多舱段物理参数测量的综合检测系统，其特征在于，包括：自动物流子系统，用于将待检测圆柱体舱段从初始点转运至质量质心特性参数检测装置；质量质心特性参数检测装置，包括测量平台、支撑组件、称重模块以及测长机构；在测量平台上设有两个支撑组件，每个支撑组件能够沿测量平台的长度方向独立地前、后移动，将前、后方向定义为纵向方向；测长机构位于测量平台的前端或者后端；称重模块包括传感器P1、P2、P3，通过传感器P1、P2、P3测量测量平台对其的压力，其中，传感器P1布置于测量平台的后部，且位于测量平台的纵向轴线上，传感器P2以及传感器P3布置于测量平台的前部，且关于测量平台的纵向轴线左、右对称；待检测圆柱体舱段被所述自动物流子系统转运至支撑组件上之后，质量质心特性参数检测装置采用以下方法实现质量质心的测量：通过传感器P1、P2、P3分别获得称量值P1、P2、P3，则待检测圆柱体舱段的质量P＝P1+P2+P3-P0，式中，P0为可以预先获得的质量质心特性参数检测装置2本身的质量；待检测圆柱体舱段的轴向质心位置式中，LG为传感器P1与传感器P2和传感器P3的间距，L0为测试设备的基准到待检测圆柱体舱段基准间的轴向距离；待检测圆柱体舱段的长度L＝L01+L02+LG，式中，L01为待检测圆柱体舱段的头部到传感器P2和传感器P3的距离，L02为待检测圆柱体舱段的尾部到传感器P1的距离；待检测圆柱体舱段被所述自动物流子系统转运至支撑组件上之后，质量质心特性参数检测装置采用以下方法实现质偏测量的测量：测量时，利用支撑组件转动待检测圆柱体舱段，使之依次处于0°、90°、180°、270°位置，并测出这四个位置所对应的传感器P2和传感器P3的测量值F21、F22、F23、F24、F31、F32、F33、F34，则有： 式中：E为待检测圆柱体舱段的偏心距；A为待检测圆柱体舱段的偏心角；L2为称重传感器中心部到传感器P2的距离，其中，称重传感器中心为过传感器P2和传感器P3的直线与纵向轴线的交点；L3为称重传感器中心到传感器P3中心的距离；F21、F22、F23、F24分别为待检测圆柱体舱段位于0°、90°、180°、270°时，传感器P2的读数；F31、F32、F33、F34分别为待检测圆柱体舱段位于0°、90°、180°、270°时，传感器P3的读数；外形扫描子系统，用于对待检测圆柱体舱段进行全方位外形扫描后，获得外形参数形位公差报告；信息处理子系统，用于整合质量质心特性参数检测装置以及外形扫描子系统所输出的检测结果。

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百度查询： 上海电器科学研究所(集团)有限公司 用于多舱段物理参数测量的综合检测系统