首页 专利交易 科技果 科技人才 科技服务 国际服务 商标交易 会员权益 IP管家助手 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索

箔材制造工艺参数筛选方法及系统 

买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!

申请/专利权人:寰采星科技(宁波)有限公司

摘要:本发明公开了箔材制造工艺参数筛选方法,包括获取金属箔材原料经X射线衍射测量得到的第一特征图谱,根据所述第一特征图谱生成第一范围和第二范围;获取锻造测试样通过X射线衍射测量得到的第二特征图谱,根据第二特征图谱生成对比信息(实际衍射峰面积占比、实际平均晶粒尺寸);对比实际衍射峰面积占比和第一范围以及实际平均晶粒尺寸范围和第二范围;在实际衍射峰面积占比落入第一范围,且,实际平均晶粒尺寸落入第二范围的情况下,记录并存储相应的锻造工艺参数作为合格锻造工艺参数。还公开了筛选系统、电子设备、计算机可读介质,本发明能够快速精准地确定金属箔材生产过程中合适的工艺参数,节省原料,提高工作效率。

主权项:1.一种箔材制造工艺参数筛选方法,其特征在于,包括:获取金属箔材原料的第一特征图谱,根据所述第一特征图谱生成判定信息,其中,所述第一特征图谱通过X射线衍射测量模块测量得到,所述判定信息包括第一特征图谱的各个晶面的衍射峰面积占比与第一幅度系数乘积得到的第一范围,以及多个晶面的平均晶粒尺寸与第二幅度系数乘积得到的第二范围;获取锻造测试样的第二特征图谱,根据所述第二特征图谱生成对比信息,其中,所述锻造测试样采用数据库中的锻造工艺参数锻造得到,所述第二特征图谱通过X射线衍射测量模块测量得到,所述对比信息包括第二特征图谱的各个晶面的实际衍射峰面积占比,以及多个晶面的实际平均晶粒尺寸;对比所述实际衍射峰面积占比和第一范围以及实际平均晶粒尺寸范围和第二范围;在实际衍射峰面积占比落入第一范围,且,实际平均晶粒尺寸落入第二范围的情况下,记录并存储相应的锻造工艺参数作为合格锻造工艺参数。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 寰采星科技(宁波)有限公司 箔材制造工艺参数筛选方法及系统

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。