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封装结构 

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申请/专利权人:日月光半导体制造股份有限公司

摘要:本实用新型提供了一种封装结构,该封装结构包括:高密度导线结构,包括第一焊盘及位于第一焊盘上的多个第一纳米线;低密度导线结构,位于高密度导线结构下方,包括面向第一焊盘的第二焊盘,第二焊盘由多个第一纳米线电连接至第一焊盘;填充层,位于高密度导线结构上方,覆盖侧表面。还提供一种封装结构,包括上下堆叠的第一和第二基板,第一基板厚度小于第二基板;多个第一纳米线电连接在第一与第二基板之间;填充层,位于第一基板上且覆盖侧表面。本申请的实施例至少能够解决断裂问题,降低导线结构之间或基板之间容易断裂的风险。

主权项:1.一种封装结构,其特征在于,包括:高密度导线结构,包括第一焊盘以及位于所述第一焊盘上的多个第一纳米线;低密度导线结构,位于所述高密度导线结构下方,所述低密度导线结构包括面向所述第一焊盘的第二焊盘,并且所述第二焊盘借由所述多个第一纳米线电连接至所述第一焊盘;填充层,位于所述高密度导线结构上方,并且覆盖所述高密度导线结构的侧表面。

全文数据:

权利要求:

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