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调试结构 

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申请/专利权人:苏州凌云光工业智能技术有限公司;凌云光技术股份有限公司

摘要:本申请公开了一种调试结构,属于撕膜设备调试技术领域。调试结构用于对撕膜设备进行调试,调试结构包括调试主体、压力传感器和控制器,调试主体用于放置于撕膜设备的下方,调试主体具有抵接面,抵接面用于与撕膜设备可选择地抵接;压力传感器安装于调试主体和撕膜设备中的一个,用于获得撕膜设备靠近抵接面时的实时压力变化数据;控制器分别与压力传感器和撕膜设备通信连接。通过将调试主体放置于撕膜设备下,并在调试主体上设置抵接面与撕膜设备抵接,不仅尽可能降低了调试难度,加快了调试速度,实现了多人同时调试多个撕膜设备的目的,还提高了调试精度和调试效率。

主权项:1.一种调试结构,用于对撕膜设备进行调试,其特征在于,包括:调试主体110,所述调试主体110用于放置于所述撕膜设备的下方,所述调试主体110具有抵接面,所述抵接面用于与所述撕膜设备可选择地抵接;压力传感器,安装于所述调试主体110和所述撕膜设备中的一个,用于获得所述撕膜设备靠近所述抵接面时的实时压力变化数据;控制器,分别与所述压力传感器和所述撕膜设备通信连接。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 苏州凌云光工业智能技术有限公司 凌云光技术股份有限公司 调试结构

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