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申请/专利权人：华南师范大学
摘要：本发明公开了一种基于优化算法的动态光散射纳米粒径测量系统。所述系统包括仪器和上位机两部分，其中仪器包括主控单元、激光器功率自动调节模块、相关时间自动调节模块、温度稳定模块以及样品池；上位机包括测量方案自定义模块以及异常数据剔除模块；本发明引入全自动优化算法，能够动态调整测量方案，避免多次测量中的实验资源浪费，显著提高实验效率；通过实现仪器自动调整关键参数，确保测量方案的合理性；有助于提高复杂应用场景下的测量精度，确保实验结果的准确性。
主权项：1.一种基于优化算法的动态光散射纳米粒径测量系统，其特征在于，包括仪器和上位机，其中仪器包括主控单元、激光器功率自动调节模块、相关时间自动调节模块、温度稳定模块以及样品池；上位机包括测量方案自定义模块以及异常数据剔除模块；样品池中放置有待测颗粒；激光器功率自动调节模块包括激光器检测模块以及可调节半导体激光器；可调节半导体激光器发射散射光信号，激光器检测模块将散射光信号转换为TTL脉冲信号输入主控单元，主控单元通过光子计数模块计数获得光子数即散射光光强；激光器检测模块设置在可调节半导体激光器的前端，可调节半导体激光器射出的光束穿过分光平片，通过激光器检测模块中的光敏电阻检测其110的光强，并实时向主控单元发送可调节半导体激光器的光强信息，主控单元通过串口向上位机发送光强信息；在初步测量中，激光器功率自动调节模块获取待测颗粒的基本颗粒粒度信息，自动调整可调节半导体激光器的功率至最优测量值，实现激光器功率的动态调整；相关时间自动调节模块获取待测颗粒的基本颗粒粒度信息，自动调整相关时间，确保在当前环境条件和样品条件下获得最优的光强自相关函数曲线，实现光子相关器核心参数的动态调整；温度稳定模块获取样品池当前温度与期望温度之间的误差，以稳定温度的波动范围；异常数据剔除模块在上位机中通过多种数据处理算法筛选正常数据，以实现对纳米粒径的高精度、稳定和可靠测量；测量方案自定义模块允许用户在上位机界面以输入具体参数值的形式设置自定义的具体测量参数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华南师范大学 一种基于优化算法的动态光散射纳米粒径测量系统
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