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申请/专利权人：成都数之联科技股份有限公司
摘要：本发明提供一种缺陷灰度统一衡量方法、系统、设备及存储介质，涉及缺陷检测技术领域，所述方法流程为：将待检测工业图像输入目标检测模型进行缺陷检测，以得到缺陷位置坐标；基于缺陷位置坐标进行缺陷灰度检测，以得到最小灰度值、最大灰度值以及平均灰度值；基于空间转换系数将最小灰度值、最大灰度值以及平均灰度值从灰度空间转换到切线空间，以得到最小切线值、最大切线值以及平均切线值；基于最小切线值、最大切线值以及平均切线值进行缺陷灰度统一，以得到缺陷灰度统一衡量结果。本发明基于平均灰度值构建空间转换系数，并且基于空间转换系数将最小灰度值、最大灰度值从灰度空间转换到切线空间，以此统一灰度衡量标准。
主权项：1.一种缺陷灰度统一衡量方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：将待检测工业图像输入目标检测模型进行缺陷检测，以得到缺陷位置坐标；基于缺陷位置坐标进行缺陷灰度检测，以获取缺陷的最小灰度值、最大灰度值以及背景的平均灰度值；其中，获取最小灰度值、最大灰度值以及背景的平均灰度值的流程如下：遍历缺陷位置坐标，以获取缺陷的所有像素点的灰度值，并且对缺陷的所有像素点的灰度值进行灰度校验，以得到缺陷的最小灰度值以及最大灰度值；基于缺陷位置坐标生成缺陷目标框，并且基于缺陷目标框向外辐射状获取背景的所有像素点的灰度值，并且对背景的所有像素点的像素值进行均值校验，以得到背景的平均灰度值；获取灰度空间和切线空间的空间转换系数，并且基于空间转换系数将最小灰度值、最大灰度值以及平均灰度值从灰度空间转换到切线空间，以得到最小切线值、最大切线值以及平均切线值；其中，所述空间转换系数的计算公式如下： 其中，m表示空间转换系数，c表示背景的平均灰度值；基于最小切线值、最大切线值以及平均切线值进行缺陷灰度统一，以得到缺陷灰度统一衡量结果；其中，所述最小切线值、最大切线值以及平均切线值的计算公式如下：A＝a×m；B＝b×m；C＝c×m其中，A表示最小切线值，B表示最大切线值，C表示平均切线值，a表示缺陷的最小灰度值，b表示缺陷的最大灰度值，c表示背景的平均灰度值。
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权利要求：
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