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超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法 

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申请/专利权人:深圳迈塔兰斯科技有限公司

摘要:提供一种超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法,其中超表面器件包括:透射型超表面,所述透射型超表面被划分成多个超表面单元;其中所述多个超表面单元中的每个超表面单元对入射光光谱透过率的调制是唯一的,所述多个超表面单元的透射谱两两正交。根据本发明技术方案,超表面对光谱编码精准,且超表面加工方式为半导体兼容工艺,更适宜大批量量产。

主权项:1.一种光谱仪,其特征在于,所述光谱仪由以下元件组成:用于光谱编码的超表面器件,包括透射型超表面,所述透射型超表面被划分成多个超表面单元,所述多个超表面单元包括纳米结构,所述纳米结构包括偏振无关结构,以对入射光施加传播相位;其中所述多个超表面单元中的每个超表面单元对入射光光谱透过率的调制是唯一的,所述多个超表面单元的透射谱两两正交或适用压缩感知;感光器件,用于接收经过所述超表面器件调制过的入射光;专用集成电路,用于采集来自所述感光器件的数据,执行计算或传送给外部计算设备;间隔层,设于所述超表面器件和所述感光器件之间,用于支撑所述超表面器件;底座,用于支撑所述超表面器件、所述感光器件、所述间隔层和所述专用集成电路。

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权利要求:

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