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申请/专利权人:武汉工程大学
摘要:本发明提供一种改进全聚焦算法的双层介质缺陷成像方法及系统,涉及超声相控阵无损检测技术领域;方法包括:通过多阵元超声换能器激发超声波信号到双层试件中,并在待检测区域进行全矩阵数据采集,并对采集到的信号进行转换,得到回波数字信号矩阵;根据费马原理和斯涅尔定理构建优化全聚焦算法,根据折反射定律推导折射补偿表达式,并对优化全聚焦算法进行改进,得到改进全聚焦算法;通过改进全聚焦算法分别对多个像素点在回波数字信号矩阵中对应的信号进行计算,得到多个像素点对应的回波幅值,并根据多个像素点对应的回波幅值构建缺陷图像。通过对回波信号进行信号补偿,使回波信号能更精确的表征试件的缺陷,生成清晰可见的缺陷图像。
主权项:1.一种改进全聚焦算法的双层介质缺陷成像方法,其特征在于,包括如下步骤:设置探头晶片激发法则和探头晶片接收法则,按照所述探头晶片激发法则通过预置的相控阵检测组件激发超声波信号到预置的双层试件中,在所述双层试件设定的待检测区域中设置多个像素点,所述超声波信号在各个像素点处产生对应的回波声信号,并按照所述探头晶片接收法则对多个像素点对应的回波声信号进行全矩阵数据采集,由多个像素点对应的多个回波声信号构成回波声信号矩阵;分别将多个像素点在所述回波声信号矩阵中对应的多个回波声信号转换为多个回波数字信号,由多个像素点对应的多个回波数字信号构成数字信号矩阵;通过费马原理和斯涅尔定理推导声传播总时间表达式,通过所述声传播总时间表达式构建优化全聚焦算法,并根据折反射定律推导折射补偿表达式,通过所述折射补偿表达式对所述优化全聚焦算法进行优化,得到改进全聚焦算法;通过所述改进全聚焦算法分别对所述待检测区域中多个像素点在所述数字信号矩阵中对应的回波数字信号进行计算,得到多个像素点对应的补偿回波幅值,并根据多个像素点对应的补偿回波幅值构建缺陷图像。
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百度查询: 武汉工程大学 一种改进全聚焦算法的双层介质缺陷成像方法及系统
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