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申请/专利权人：上海华力集成电路制造有限公司
摘要：本发明公开了一种结果数据库快速生成OPC测试版图的方法和系统、存储介质，该方法包括以下步骤：步骤一，根据用户最受关注的检测项数据库，按照其格式读出各个检测项的性质并提取所需的信息以结构单元的数据格式寄存在结果数据库的树数据结构中；步骤二，读取树数据结构，选中检测项的弱点；步骤三，根据坐标生成截取盒子并通过交集逻辑操作将选中的检测项的弱点所在的GDS截取出来，寄存在Gdsii数据结构中；步骤四，将已截取出的GDS片段均匀排布，生成新的OPC测试版图。本发明方便手续芯片数据收集。
主权项：1.一种结果数据库快速生成OPC测试版图的方法，其特征在于，其包括以下步骤：步骤一，根据用户最受关注的检测项数据库，按照其格式读出各个检测项的性质并提取所需的信息以结构单元的数据格式寄存在结果数据库的树数据结构中；所述结果数据库包括检测项的名称、检测项的性质、弱点版图坐标及弱点版图所在的cell名称；步骤二，读取树数据结构，选中检测项的弱点；步骤三，根据坐标生成截取盒子并通过交集逻辑操作将选中的检测项的弱点所在的GDS截取出来，寄存在Gdsii数据结构中；步骤四，将已截取出的GDS片段均匀排布，生成新的OPC测试版图；GDS片段均匀排布是将相同性质的GDS按照值由大到小，在同一排均匀放置。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海华力集成电路制造有限公司 结果数据库快速生成OPC测试版图的方法和系统、存储介质
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