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申请/专利权人：厦门优迅芯片股份有限公司
摘要：本发明公开了一种ONU光驱芯片突发响应时间ATE测试方法，其包括依次进行的步骤一、步骤二和步骤三，其中，步骤三包括：由ATE测试机先将ONU光驱芯片配置为突发闭环工作模式；然后，ATE测试机在预设合格突发响应时间内给ONU光驱芯片的BEN引脚输入周期性脉冲使能信号；接着，ATE测试机控制ONU光驱芯片的BEN引脚电平维持高电平，且ATE测试机获取此时的偏置电流值Ib2，并对偏置电流值Ib2进行判断。本发明通过现有的ATE测试机和相应的外围测试电路就能对ONU光驱芯片突发响应时间是否合格进行测试，测试硬件要求低。
主权项：1.一种ONU光驱芯片突发响应时间ATE测试方法，其特征在于：包括如下依次进行的步骤：步骤一：将ONU光驱芯片与ATE测试机和外围测试电路连接，外围测试电路使得ONU光驱芯片处于闭环工作状态；步骤二：启动ONU光驱芯片，由ATE测试机将ONU光驱芯片配置为连续闭环工作模式，且ONU光驱芯片的BEN模块的基准电流值设定为额定基准电流值；然后ONU光驱芯片在工作预设合格连续响应时间后，由ATE测试机读取此时ONU光驱芯片的寄存器中的BIASDAC值并换算成相应的偏置电流值Ib1；若是该Ib1≥A，则判定ONU光驱芯片异常，测试结束；若是该Ib1A，则判定ONU光驱芯片正常并进入步骤三；A为ONU光驱芯片在连续闭环工作模式下正常工作时的最大偏置电流值；步骤三：由ATE测试机先将ONU光驱芯片配置为突发闭环工作模式，且ONU光驱芯片的BEN模块的基准电流值设定为额定基准电流值；然后，ATE测试机在预设合格突发响应时间内给ONU光驱芯片的BEN引脚输入周期性脉冲使能信号；接着，ATE测试机控制ONU光驱芯片的BEN引脚电平维持高电平；再接着，ATE测试机读取此时ONU光驱芯片的寄存器中的BIASDAC值并换算成相应的偏置电流值Ib2；若是该Ib2≥B，则判定ONU光驱芯片异常，测试结束；若是该Ib2B，则判定ONU光驱芯片的突发响应时间初步合格；B为ONU光驱芯片在突发闭环工作模式下正常工作时的最大偏置电流值。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 厦门优迅芯片股份有限公司 一种ONU光驱芯片突发响应时间ATE测试方法
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