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申请/专利权人：中国船舶重工集团公司第七0九研究所
摘要：本发明公开了一种基于ATE的GPU核心全速功能测试方法，涉及GPU芯片研发与测试领域。首先，ATE通过模式选择接口将GPU芯片置于GPU核心全速功能测试模式，然后，ATE通过控制接口对GPU芯片内部的时钟电路进行配置，再接着，ATE通过数据接口及专用数据通路，将测试数据装载至GPU芯片的内部测试存储器，进一步，ATE通过控制接口启动GPU核心，使其读取测试数据进行计算并将结果写回至GPU芯片的内部测试存储器，最后，ATE通过控制接口查询GPU核心的工作状态，在其工作状态为空闲时，从GPU芯片的内部测试存储器中将测试结果读出并与标准结果进行比对。本发明具有快速灵活、成本低，可广泛应用于GPU芯片的研发与测试领域。
主权项：1.一种基于ATE的GPU核心全速功能测试方法，其特征在于，其包括如下步骤：S1：ATE通过模式选择接口使GPU芯片处于GPU核心全速功能测试模式；S2：ATE通过控制接口对GPU芯片内部的时钟电路进行配置，使其为GPU核心、系统总线、内部测试存储器提供所需的全速测试时钟；S3：ATE通过数据接口及专用数据通路，将测试数据装载至GPU芯片的内部测试存储器，其中，复用正常工作模式下GPU芯片内部PCIePHY固件存储器与DDRPHY固件存储器用作GPU芯片的内部测试存储器，具体为，在GPU核心全速功能测试模式下，位于离散存储空间的GPU芯片内部PCIePHY固件存储器与DDRPHY固件存储器被重新映射成内部测试存储器的连续存储空间，用于存储测试数据与测试结果；S4：ATE通过控制接口启动GPU核心，使其从GPU芯片的内部测试存储器中读取测试数据进行计算，并将测试结果写回至GPU芯片的内部测试存储器；S5：ATE通过控制接口适时查询GPU核心的工作状态；S6：判断GPU核心的工作状态是否空闲，若为空闲状态，进入步骤S7，若不为空闲状态，跳转至步骤S5；S7：ATE通过数据接口及专用数据通路从GPU芯片的内部测试存储器中读取测试结果，并与标准结果进行比对。
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百度查询： 中国船舶重工集团公司第七0九研究所 一种基于ATE的GPU核心全速功能测试方法
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