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申请/专利权人：芯测通(深圳)半导体有限公司
摘要：本发明提出一种FPGA平台、ATE测试设备和ATE测试设备控制方法，ATE测试设备控制方法包括以下步骤：根据中央处理器输出的第一工作指令确定预设测试参数；控制待测物发出电信号，并将电信号转换为符合通讯条件的待测信号；根据预设测试参数对待测信号的待测参数进行测试，并根据测试结果输出测试信号至中央处理器，以供中央处理器进行参数读取。本发明在FPGA平台扩增具有参数比对功能的测试模块，以将待测物的待测参数通过硬件运算方式实现测试，在对芯片测试的过程中不需要通过主控器进行参数验证和参数计算，可加速对芯片的参数验证以及减轻主控器工作排程的负載，从而提高ATE测试设备对芯片的测试效率。
主权项：1.一种ATE测试设备控制方法，其特征在于，包括以下步骤：根据中央处理器输出的第一工作指令确定预设测试参数；控制待测物发出电信号，并将电信号转换为符合通讯条件的待测信号；根据预设测试参数对待测信号的待测参数进行测试，并根据测试结果输出测试信号至中央处理器，以供中央处理器进行参数读取。
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权利要求：
百度查询： 芯测通(深圳)半导体有限公司 FPGA平台、ATE测试设备和ATE测试设备控制方法
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